سال انتشار: ۱۳۸۹

محل انتشار: بیست و پنجمین کنفرانس بین المللی برق

تعداد صفحات: ۱۰

نویسنده(ها):

کوروش موسوی تاکامی – دکترای برق گرایش شبیه سازی و مدلسازی – شرکت پاساد پرنگ

چکیده:

هسته تجهیزات الکتریکی در زمان جار ی شدن شارهای مغناطیسی تلفاتی بصورت حرارت تولید می نمایند که پیری را تشدید می کند. پیری ورقهای مغناطیسی به افزایش تلفات بعد از رفتار حرارتی تولید نهایی اطلاق می شود.در این مطالعه تستهای کوتاه و بلند مدت در دماهای متفاوت از جمله برای ۱۰ روز در ۱۵۰c روی یک کویل کربن بالااز۲۶ppm انجام شده است این سیکل طولانی تلفات بیشتری را در زمان کوتاهی شامل می شود و مطالعه را دقیق تر نمود می دهد. وقتی شکل گیری سمنتایت یا اپسیلن کرباید ها بین ۰٫۱-۱٫۰بوده اند پیری مشاهده شده است .این همراه با کاهش بین نشینی کربنی خواهد بود . ذرات ریز کرباید ۱۰nm 10 در نمونه های قبل و بعد از گرم کردن مشاهده شده و این اعتقاد را می افزاید که آنها مسبب پیری نیستند فرآیند پیری برای ورق s18با۹۰ppm کربن سریعتر از ورق t30 با۳۰ppm کربن بوده است.این نتایج با مشاهداتی در مواد تولید شده همراه هستند چرا که پیری استیلهای کم سیلیکن بیشتر و سریعتر از ورقهای سیلکن بالا هستند . نتایج مطالعات نشان می دهد که ورق نوع t30با همان مقدار کلی و باریکه ای حجم کربن، پیری متفاوتی را نسبت به نوع دیگر ورقهای مورد تست نشان داده است. نتیجه جهت آپ گرید نمودن رله نیومریکال ret630 ساخت abbاستفاده میشود.