سال انتشار: ۱۳۹۱

محل انتشار: بیستمین کنفرانس مهندسی برق ایران

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

امیر حسینی – دانشگاه شهید یهشتی، دانشکده مهندسی ههته ای، گروه کاریرد ارتوها، دان
سیدامیرحسین فقهی – دانشگاه شهید یهشتی، دانشکده مهندسی هسته ای، گروه کاریرد ارتوها، هیا
امید شکوفا – سازمان فضایی ایران، پژوهشکده ت حقیقات فضایی
حمیده دانشور – دانشگاه شهید بهشتی

چکیده:

دراثر اندرکنشهای نوترون درقطعات الکترونیکی مشخصات الکتریکی آنها مانند ظرفیت خازنی جریان بایاس معکوس و طولعمر حامل اقلیت تغییر کرده و موجب اختلال درعملکرد قطعه می شود یکی ازروشهای متداول درتعیین پارامتر وابسته به آسیب استفاده از تکنیک C-V است مقادیر استخراج شده ازا ین روش دو پارامتر B,inv است که معیاری برای آسیب وارده برقطعه می باشد هدف ازانجام این کار اندازه گیری و مقایسه این پارامترها برای دیودها BYV27 و BYV95 است که تحت تابش راکتور تحقیقات تهران پرتودهی شده اند نتایج بدست آمده ح اکی ازانطباق بسیارخوب روابط تئوری با نتایج تجربی است درمقایسه با دودیود مذکور دیود BYV27 برای محیطهای تابشی مناسب تر است.