سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: ششمین کنفرانس ملی مهندسی نساجی ایران

تعداد صفحات: ۸

نویسنده(ها):

محبوبه ملکی – دانشجوی کارشناسی ارشد دانشکده مهندسی نساجی دانشگاه صنعتی امیرکبیر
مسعود لطیفی – استاد دانشکده مهندسی نساجی، دانشگاه صنعتی امیرکبیر
محمد امانی تهرانی – استادیار دانشکده مهندسی نساجی، دانشگاه صنعتی امیرکبیر
علی اکبر قره آغاجی – استادیار دانشکده مهندسی نساجی، دانشگاه صنعتی اصفهان

چکیده:

لایه های نانو، پتانسیل کاربردهای زیادی در پزشکی، فیلتراسیون، کامپوزیت ها، پوشاک نظامی، منسوجات هوشمند، عایق بندی، مواد لباس های محافظ، بافت های بدن و … را دارند. شناخت خواص ساختمانی لایه های نانو تولید شده برای تعیین خواص مکانیکی، فیزیکی و کنترل آن ها بسیار مهم است. این خواص شامل: توزیع قطر، توزیع آرایش یافتگی، دانسیته لایه، شکل و اندازه تخلخل، اتصالات الیاف و یکنواختی لایه نانو می باشند. بنابراین اندازه گیری و ارزش گذاری کمی و کیفی آن ها می تواند میزان انطباق این خصوصیات را با مصرف نهایی تعیین نماید و از طرفی یک مقیاس مناسب برای ارزیابی لایه های نانو تولید شده در صنعت باشد که امکان بررسی آن ها به صورت برخط نیز وجود دارد. این مقاله به نحوه ی استفاده از روش پردازش تصویری در تعیین خواص ساختمانی لایه های نانو شبیه سازی می پردازد.