سال انتشار: ۱۳۹۱

محل انتشار: اولین همایش ملی علوم و فناوری نانو

تعداد صفحات: ۵

نویسنده(ها):

امیرحسن مهدی زاده مقدم – پژوهشکده فناوری نانو ، دانشگاهسیستان و بلوچستان ، زاهدان ، ایران
مرتضی ایرانی – پژوهشکده فناوری نانو ، دانشگاهسیستان و بلوچستان ، زاهدان ، ایران
عماد خاکسار – دانشگاهسیستان و بلوچستان

چکیده:

این مقاله آرایه منظم نانولوله های کربنی را بوسیلهی الگوی پراش اشعه ایکس و طیف سنجی رامان مطالعه میکند. مساحت الگوهای پراش عموما خلوص و مقدارکربن آمورف در نانولولههای کربنی را ارائه میدهد و شدت قلههای مربوط به صفحات( ۰۰۲ ) همراستایی و نظم موجود در نانولولههای کربنی را تعیین میکند. مد شعاع تنفسینانولوله کربنی علاوه بر تعیین کردن محدودهی پیوستگی در قطر نانولولههای کربنی، مقدار نانولوله را ارائه میدهد. با توجه به محدوده فرکانسی بالاتر شدت باندهای گرافیتی و نقص در این طیف سنجی معرف خلوص و بلورینگی نانولولهها خواهد بود. این شیوهها روش ساده ای را در تعیین میزان خلوص، یکراستایی و بازهی قطر نانولولههای کربنی ایجاد کرده است