سال انتشار: ۱۳۹۱

محل انتشار: اولین کنفرانس بین المللی مواد پیشرفته

تعداد صفحات: ۵

نویسنده(ها):

جمال مظلوم – گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه گیلان، آزمایشگاه تحقیقاتی ماده چگا
فرهاد اسمعیلی قدسی – گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه گیلان، آزمایشگاه تحقیقاتی ماده چگا
مینا غلامی کفترودی – گروه فیزیک دانشکده علوم پایه، دانشگاه آزاد آسلامی، واحد تهران مرکزی
محمدرضا جلیلیان نصرتی – گروه فیزیک دانشکده علوم پایه، دانشگاه آزاد آسلامی، واحد تهران مرکزی

چکیده:

در این بررسی فیلم های اکسید قلع آلاییده شده با آنتیموان بر روی زیر لایه های شیشه ای به روش لایه نشانی غوطه وری سل-ژل تهیه شدند. فیلم ها تحت عملیات بازپخت در باره دمایی ۲۰۰ -۵۰۰قرار گرفتند. خواص ساختاری، مورفولوژیکی، اپتیکی و الکتریکی فیلم ها توسط دستگاه XRD ,میکروسکوپ نیروی اتمیAFM)طیف سنجUV-Visible و آنالیز اثر هال اندازه گیری شد. نتایج نشان داد فیلم تهیه شده دارای ساختار کریستالی تتراگونال اکسید قلع بوده و هیچگونه فاز اضافی ناشی از حضور ناخالصی در الگوی پراش مشاهده نشد. طیف تراگسیل فیلم ها بیانگر این حقیقت است که فیلم ها در محدوده مرئی شفاف هستند و افزایش دمای بازپخت میزان عبور را کاهش می دهد، ثابت های اپتیکی (ضریب شکست، ضریب خاموشی)، ضخامت و گاف نواری فیلم ها از طیف تراگسیل و با استفاده از روش بهینه ساری نامقید تعیین گردید و مشاهده شد که با افزایش دمای بازپخت، ضریب شکست و ضریب خاموشی فیلم ها افزایش و گاف نواری کاهش می یابد. مقاومت سطحی فیلم ها نیز با افزایش دمای بازپخت کاهش چشمگیری می یابد