سال انتشار: ۱۳۸۹

محل انتشار: چهارمین همایش مشترک انجمن مهندسین متالورژی و جامعه علمی ریخته گری ایران

تعداد صفحات: ۱۰

نویسنده(ها):

آرش فتاح الحسینی – استادیار ، دانشگاه بوعلی سینا همدان
محمد علی گلعذار – استاد ، دانشگاه صنعتی اصفهان
احمد ساعتچی – استاد ، دانشگاه صنعتی اصفهان
کیوان رئیسی – دانشیار ، دانشگاه صنعتی اصفهان

چکیده:

امروزه کاربرد فولادهای زنگ نزن در صنایع مختلف ، به واسطه تشکیل لایه رویین و ایجاد مقاومت به خوردگی عالی ، بسیار گسترش یافته است. واضح است که محاسبه ضخامت لایه رویین ، که پارامتری تاثیر گذار بر پایداری آن است ، بسیار مهم می باشد. در این میان ، طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی یکی از بهترین روش ها برای محاسبه ضخامت لایه رویین است. از این رو در این تحقیق ، ضخامت لایه رویین تشکیل شده بر روی فولاد زنگ نزن ۳۱۶L با استفاده از این روش محاسبه شد. برای این منظور ، ابتدا با استفاده از منحنی های نایکویست ، ظرفیت خازنی در فرکانس ۱KHz اندازه گیری و سپس با جایگزینی این مقادیر در معادلات مربوطه ، ضخامت لایه رویین در هر پتانسیل محاسبه شد. نتایج نشان داد که افزایش پتانسیل در محدوده ۰/۲- تا ۰/۸VSCE ، ضخامت لایه رویین به طور خطی از ۳/۹ تا ۸/۴ آنگستروم افزایش می یابد که مطابق با پیش بینی مدل عیوب نقطه ای است. همچنین با استفاده از مدل عیوب نقطه ای مقدار ضریب نفوذ دهنده های الکترونی در لایه رویین (فرمول در متن اصلی مقاله) به دست آمد.