سال انتشار: ۱۳۹۱

محل انتشار: چهارمین کنفرانس مهندسی برق و الکترونیک ایران

تعداد صفحات: ۸

نویسنده(ها):

راهله سلاح ورزی – دانشجوی مهندسی کامپیوتر دانشگاه آزاد اسلامی واحد کرمانشاه
ایوب آدینه وند – عضو هیئت علمی، گروه کامپیوتر دانشگاه آزاد اسلامی واحد کرمانشاه

چکیده:

اتوماتای سلولی کوانتومی (QCA) یک نانوفناوری جدید و قابل توجه برای پیاده سازی مدارهای الکترونیکی در ابعاد نانو می باشد. این نانو فناوری به لحاظ سرعت بسیار بال، مساحت و توان مصرفی بسیار پائین تر در مقایسه با فناوری CMOS قابل توجه بوده و می تواند بهبود چشمگیری در طراحی مدارهای منطقی مختلف ایجاد نماید. تا به حال مطالعات فراوانی روی روش های ساخت، طراحی، بهینه سازی و آزمون مدارهای QCA انجام شده. با پیشرفت روز افزون فناوری QCA، ارائه روش هاس تست جهت آزمون این مدارها از اهمیت بالایی برخوردار می باشد. کلیه مطالعاتی که روی تست مدارهای QCA انجام گرفته، به بررسی انواع خطاها در QCA پرداخته است، تا کنون الگوی تست مناسبی جهت پوشاندن خطاها در QCA ارائه نشده است. مقاله حاضر ، یک چهار چوب تست جامع برای مدارهای QCA ارائه می نماید. روش مورد نظر باعث افزایش قابلیت کنترل پذیری مدارهای QCA شده، این روش با توجه به خاصیت چند لایه بودن مدارهای QCA و تفکیک پذیری آنها هیچ حجمی به ابعاد مدار نمی افزاید و موجب افزایش تست پذیری مدار می گردد. این مقاله بر اساس روش تست درون ساختی (BIST) معرفی می شود. برای بررسی صحت عملکرد این روش از شبیه ساز معتبر QCADesigner استفاده شده است.