سال انتشار: ۱۳۸۶

محل انتشار: دهمین کنفرانس دانشجویی مهندسی برق ایران

تعداد صفحات: ۷

نویسنده(ها):

سمیه رحمانی خوجین – مرکز تحقیقات مخابرات ایران
سعید گل محمدی هریس – دانشگاه تربیت مدرس تهران گروه الکترونیک

چکیده:

دسترسی به نقاط تست در سطح وسیع و کامل در هنگام تست بردهای مدارچاپی از اهداف مهم در طراحی یک برد مدارچاپی محسوب می شود زمانی که دسترسی به نقاط تست درروی برد مدار چاپی کامل نباشد دراین صورت روشهای تست معمول برای تست بردهای مدارچاپی کارایی لازم را نخواهد داشت بنابراین باید شیوه جدیدی جهت تست جستجو کرد روش پیشنهادی در این مقاله تست بردهای مدارچاپی که المان آنها منطبق بر استاندارد IEEE1149.1 هستند را با استفاده از چهارخط خط پنجم اختیاری و بدون نیازبه دسترسی فیزیکی مقدور می سازد IC های به کاررفته در طراحی بردهایی که با استفاده از این روش تست می شوند باید دارای ساختمان خاصی باشند تا بتوانند دستورالعملهایی که دراین استاندارد تعریف می شوند را اجرا کنند.