سال انتشار: ۱۳۸۳

محل انتشار: دهمین کنفرانس سالانه انجمن کامپیوتر ایران

تعداد صفحات: ۸

نویسنده(ها):

یوسف صیفی کاویان – دانشگاه علم و صنعت ایران دانشکده برق گروه الکترونیک
کریم محمدی –
مجید نادری –

چکیده:

تولید بردار آزمون یکی از مسائل مهم در آزمون مدارای دیجیتالی می باشد دراین مقاله تولید بردار آزمون برای مدارات دیجیتالی در سطح گیت برای آشکارسازی خطای اتصال به ۱ یا ۰ با استفاده از الگوریتم ژنتیک مورد نظر می باشد روش مورد نظر در حالت وجود چندین خطا multi-fault و مدارات دارای fan-out و درحالتیکه تعداد ورودی ها مدار بالا باشد دارای عملکرد مناسب می باشد نتایج شبیه سازی کارایی این روش تولید بردار ازمون برای مدارات دیجیتالی را نشان میدهد.