سال انتشار: ۱۳۹۰

محل انتشار: همایش ژئوماتیک ۹۰

تعداد صفحات: ۱۰

نویسنده(ها):

علیرضا صفدری نژاد – دانشجوی کارشناسی ارشد سنجش از دور، دانشکد هی ژئودزی و ژئوماتیک، دانشگاه
مجتبی جنتی – دانشجوی کارشناسی ارشد سنجش از دور، دانشکد هی ژئودزی و ژئوماتیک، دانشگاه
محمدجواد ولدان زوج – دانشیار دانشکد هی مهندسی ژئوماتیک دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوس
مهدی مختارزاده – استادیار دانشکده ی مهندسی ژئوماتیک دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طو

چکیده:

در این مقاله با استفاده از تبدیل فوریه فرآیند تلفیق تصاویر چندطیفی MS)و پانکروماتیکPan) سنجند هیIKONOSصورت پذیرفت. نتایج حاصله با استفاده از کسب اطلاعات مکانی با فرکانس بالا از تصویرPan و اطلاعات طیفی از تصاویرMS نشان داد که روش مذکور دارای قابلیت مناسبی جهت فرآیند تلفیق می باشد. در ادام هی کار، با تدوین شاخص جدیدی با استفاده از تحلی لهای آماری و هندسی در فضای ویژگی جهت ارزیابی نتایج تلفیق، فرآیند اجرای تلفیق به کمک حوز هی فرکانس مورد تحلیل قرار گرفت و نهایتاً ساختار فرکانسی مطلوب جهت انجام پروس هی تلفیق به کمک شاخص پیشنهادی شناسایی شد. در انتها، روشی جهت افزایش سرعت شناسایی ساختارهای فرکانسی تلفیق ارائه گردید که به نحو محسوسی هزینه ی محاسباتی کار را کاهش داد. نتایج نشان داد عملکردشاخص بهینگی پیشنهادی مستقل از تکنیک تلفیق بوده و می توان از شاخص مذکور در سایر روش های تلفیق نیز استفاده نمود.