مقاله تصحیح تصویر حاصل از پروفایلومترها از سطوحی با زبری نانومتری که چکیده‌ی آن در زیر آورده شده است، در تابستان ۱۳۸۹ در نانو مواد (تحقیقات مواد نانو کامپوزیتی) از صفحه ۱۲ تا ۱۹ منتشر شده است.
نام: تصحیح تصویر حاصل از پروفایلومترها از سطوحی با زبری نانومتری
این مقاله دارای ۸ صفحه می‌باشد، که برای تهیه‌ی آن می‌توانید بر روی گزینه‌ی خرید مقاله کلیک کنید.
کلمات مرتبط / کلیدی:
مقاله فرآیند مارکوف
مقاله طول مارکوف
مقاله میکروسکوپ نیروی اتمی
مقاله سوزن پروب
مقاله سطح زبر

نویسنده(ها):
جناب آقای / سرکار خانم: سلامی مجید
جناب آقای / سرکار خانم: زمانی مریم
جناب آقای / سرکار خانم: فاضلی سیدمهدی
جناب آقای / سرکار خانم: جعفری غلامرضا

چکیده و خلاصه‌ای از مقاله:
در این مقاله نشان می دهیم که فرآیندهای مارکوف نقشی اساسی در جاروب سطح زبر و مشخص کردن توپوگرافی آن سطح دارند. توپوگرافی سطح حاصل شده از یک پروفایلومتر مانند میکروسکوپ نیروی اتمی AFM (Atomic Force Microscope)، وابسته به برهمکنش سطح با سوزن پروب است. وقتی سایز سوزن پروب با تغییرات ارتفاع سطح قابل مقایسه باشد، تصویر سطح نسبت به سطح اصلی مقداری متفاوت خواهد داشت. اثر سوزن باعث بوجود آمدن یک تلاقی در تابع ساختار سطح می شود. برای مقیاس های کوچکتر از طول مارکوف – مقیاس طول مینیمم بر روی فرآیندی که مارکوف باشد – تابع تصادفی که سطح زبر را توصیف می کند غیر مارکوفی است، در حالیکه برای مقیاس طول بزرگتر از طول مارکوف، سطح می تواند توسط یک فرآیند مارکوف توصیف شود. سطوح زبر مصنوعی تولید شده با روش (Fractional Guassian Noise) FGN، به خوبی سطح زبر V2O5 حاصل شده توسطAFM ، این نتایج را تایید می کند.