سال انتشار: ۱۳۹۱

محل انتشار: چهارمین کنفرانس ملی تحلیل پوششی دادها

تعداد صفحات: ۴

نویسنده(ها):

فاطمه مطرود – دانشگاه آزاد اسلامی واحد آبادان، گروه ریاضی، آبادان، ایران

چکیده:

در این مقاله مدل اندازه گیری کارایی مدیریت دانش (KM) در محیط تصادفی با استفاده از DEA، شبیه سازی مونت کارلو و الگوریتم ژنیتک مورد مطالعه قرار می دهیم. مدل پیشنهادی، مدیریت دانش را با استفاده از مجموعه ای از پراکسی مرتبط با فرایند مدیریت دانش بزرگ اندازه می گیرد. با استفاده از الگوریتم ژنتیک، دقت مدل اختصاص داده شده بودجه را تضمین می شود. اطلاعات اضافی تولید شده را با استفاده از مدل DEA مونت کارلو پیشرفته برای به دست آوردن کارایی مدیریت دانش و مقدار کارایی فرایندهای مدیریت دانش تحلیل می کنیم. از این مدل در ارزیابی عملکرد مدیریت دانش در موسسات آموزش عالی استفاده شده است. در نهایت، مقایسه مدل پیشنهادی با مدل های قطعی متداول DEA نشان میدهد نتایج حاصل می تواند برای مدیرانی که می خواهند با بکارگیری استرتژی مدیریت دانش خود را بهبود بخشند مفید واقع شود.