سال انتشار: ۱۳۸۹

محل انتشار: بیست و پنجمین کنفرانس بین المللی برق

تعداد صفحات: ۷

نویسنده(ها):

بهزاد کوزه گرکالجی – دانشجوی دکتری مهندسی مواد – دانشگاه تربیت مدرس تهران
رسول صراف ماموری – عضو هیات علمی دانشگاه تربیت مدرس تهران
سهراب سنجانی – عضو هیات علمی دانشگاه تربیت مدرس تهران

چکیده:

در این تحقیق، لایه نازک تیتانیا بر روی زیرلایه هایی از جنس مقره پرسلانی به روش سل – ژل غوطه وری اعمال شد. ساختار کریستالی و مورفولوژی لایه نازک با تفرق اشعه ایکس (XRD)ومیکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) بررسی شد. توپوگرافی سطحی لایه نازک با میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM)حاکی از سطح دانه دانه ای با متوسط اندازه دانههای ۵۰ نانومتر بود. خواص فتوکاتالیستی لایه نازک تیتانیا به وسیله تجزیه محلول رنگی متیلن بلMethylene(Blue=MB)مطالعه شد. نتایج XRD نشان می دهد که با افزایش دمای کلسیناسیون، شدت پیک های کریستاله شده افزایش یافته است. با توجه به تصاویرSEMذراتی با متوسط ۱۰۰-۷۰ نانومتر و ضخامت لایه نازک کمتر از۱ میکرومتربود. بهترین خواص فتوکاتالیستی نمونه ها در دمای کلسیناسیون ºC400 حاصل شد.