سال انتشار: ۱۳۹۱

محل انتشار: پانزدهمین کنفرانس دانشجویی مهندسی برق ایران

تعداد صفحات: ۵

نویسنده(ها):

معراج رجایی – استاددانشگاه دکترشریعتی تهران
مرضیه لاری منفرد – مهندس برق الکترونیک

چکیده:

دراین مقاله تکنیک پردازش تصویر به عنوان روشی جدید و سریع جهت تشخیص سیب آفت خورده از سیب سالم استفاده می شود که با استفاده ازنرم افزار مطلب پردازش می شود هدف اصلی پروژه حذف نیروی انسانی از فرایند بازرسی مستقیم چشمی از درختان سیب در تشخیص آفت ها می باشد که کمک شایانی به کشاورزان می کند هسته اصلی این مقاله یک دستگاه کامپیوتر و نیروی انسانی مجرب و کارآزموده که تصاویر دریافتی از دوربین را پردازش کرده و با مقایسه پارامترهای بدست آمده و از کنار هم قرار دادن نتایج حاصل ازپردازش انجام شده سیب آفت خورده تشخیص داده می شود با مقایسه تصویر سیب سالم و سیب ناسالم آفت شناسایی می شود.