سال انتشار: ۱۳۸۳

محل انتشار: دهمین کنفرانس سالانه انجمن کامپیوتر ایران

تعداد صفحات: ۸

نویسنده(ها):

فرهاد بافکار – گروه کامپیوتر دانشکده فنی مهندسی دانشگاه اصفهان
ناصر موحدی نیا –
ناصر نعمت بخش –

چکیده:

مساله تست مدارهای دیجیتال و آزمایش صحت کارکرد آنها خصوصا درمدارهای مجتمع با اندازه بسیار وسیع VLSI از اهمیت بسیاری برخوردار است دراین مقاله طول تستمربوطه به نمونه های ضدتصادفی برای N بار تشخیص اشکالات موجود در مدارهای VLSI تحلیل گردیده و با کمک تکنولوژی خودآزمایش داخلی BIST مورد ارزیابی و اندازه گیری قرارگرفته است سپس این شیوه تست روی مدار سنجش ISCAS85C432 شبیه سازی شده و نتایج ان با محاسبات انجام گرفته مقایسه شده است.