سال انتشار: ۱۳۹۱

محل انتشار: اولین کنفرانس ملی نانوالکترونیک ایران

تعداد صفحات: ۵

نویسنده(ها):

فاطمه اکبربیگلو – دانشگاه آزاد اسلامی واحد ارومیه
هاله کنگرلو – دانشگاه آزاد اسلامی واحد ارومیه

چکیده:

لایه های نازک سولفید سربPbS) بر روی زیرلایه شیشه ای در دمای انباشت یکسان۵۵ oC,زمان های متفاوت ۲۲ و ۰۲ دقیقه با استفاده از روش حمام شیمیایی انباشت می شوند. نانوساختار و مورفولوژی سطح لایه ها به ترتیب با استفاده از پراش اشعه ایکس XRD),میکروسکوپ نیروی اتمیAFM) مورد مطالعه قرار می گیرند و برای بررسی خصوصیات اپتیکی لایه های بدست آمده از طیف سنج نوریSpectrophotometer) در محدوده طول موج نور مرئی استفاده می شود